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  New?Imaging?Technologies用于半導體檢測的NIT成像解決方案 2022-03-11 17:09:27

  ?在過去的數年里，SWIR波段被公認是半導體器件測試的最好波長范圍之一。不論是晶圓或太陽能發電板上的裂痕和缺陷，或是集成電路的故障分析，InGaAs波長（900m-1700nm）成像設備主要用于透視硅內部。

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  EPSILON? – 陸地平臺慣性導航裝置Safran 2022-09-05 16:43:52

  Safran的EPSILON?–地面平臺慣性導航系統裝置具備多功能型，Epsilon?系列提供高端應用，即便在GNSS被拒的環境里：導航（位置和航向）、瞄準輔助、輔助駕駛。